產品中心您當前的位置：首頁 > 產品中心 > 無損檢測儀器 > 超聲波探傷儀 > LBUT30B數(shù)字超聲波探傷儀 LBUT30B
基礎信息Product information
產品名稱：數(shù)字超聲波探傷儀 LBUT30B
產品型號：LBUT30B
產品簡介：
數(shù)字超聲波探傷儀 LBUT30B專業(yè)供應銷售具有*的技術水平，更有良好的售后服務和優(yōu)質的解決方案，歡迎您的詳細信息！
產品特性Product characteristics
數(shù)字超聲波探傷儀 LBUT30B
技術參數(shù)
名稱 | 技術數(shù)據(jù) |
掃描范圍（mm） | 0～6000 |
垂直線性誤差 | ≦3% |
水平線性誤差 | ≦0.2% |
探傷靈敏度余量 | ≧62dB（深200mmφ2平底孔） |
動態(tài)范圍 | ≧32dB |
分辨率 | ≧40dB |
頻率范圍（MHz） | 0.5～20 |
增益調節(jié)（dB） | 0～110 |
材料聲速（m/s） | 1000～9999 |
抑制 | 0～80% |
工作溫度（℃） | -27～70 |
外形尺寸（mm） | 225*170*50（LBUT30/30B） |
重量（Kg） | 1.8 |
主要功能
l 利用標準試塊手動或自動生成DAC、AVG曲線；
l 自動顯示缺陷回波位置（深度D、水平P、距離S、波幅H）；
l 自由切換三種標尺（深度D、水平P、距離S）；
l 10個獨立探傷通道，可自由輸入并存儲任意行業(yè)的探傷標準（可根據(jù)用戶需求擴展）；
l 可存儲300幅A形圖形、參數(shù)（可根據(jù)用戶需求擴展）；
l 自動顯示缺陷當量φ值；
l 高采樣率，低噪聲；
l 探頭方式：單晶、雙晶、穿透；
l 回波抑制；
l 回波次數(shù)分析。
輔助功能
l 自動增益、回波包絡、峰值記憶功能提高了探傷效率；
l 中英文操作界面；
l 角度和K值兩種輸入方式；
l 閘門聲光報警。
產品特點
l 利用PC通訊軟件可以升級儀器系統(tǒng)的功能；
l 鋰電池供電，可連續(xù)工作10小時；
l IP65標準鋁鎂合金外殼，堅固耐用，防水防塵，抗干擾能力；
l 大屏幕高亮顯示，可以滿足在陽光下、涵洞中探傷的要求。
標準配置
| LBUT30/30B/30G | 1臺 |
| 直探頭2.25MHz3/4英寸（美國TRU-SONIC） | 1支 |
| 斜探頭5P10*10 60º（美國TRU-SONIC） | 1支 |
| 電源適配器 | 1個 |
| BNC電纜 | 2根 |
| PC通訊軟件 | 1套 |
|
|
|
|
 |
在線客服